Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků

ZIKMUND, T.; PETRILAK, M.; ČELKO, L.,; PROČEK, J.; KAISER, J., 2013: Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků. , p. 44 - 6; FULL TEXT

Research Groups:

• Advanced Instrumentation and Methods for Materials Characterization - Jozef Kaiser

CEITEC authors:

• Tomáš Zikmund, Ph.D.
• Michal Petrilak
• Ladislav Čelko, Ph.D.
• Prof. Jozef Kaiser, Ph.D.